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IC器件測(cè)試插座

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

GU41-10B320-T200 IC器件測(cè)試插座(高頻測(cè)試插座)GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距),適用于BGA(FPGA),LGA測(cè)試和老化插座。

產(chǎn)品型號(hào):GU41-10B320-T200
更新時(shí)間:2024-11-06
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:1178
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域電子

GU41-10B320-T200

      IC器件測(cè)試插座示意圖

      IC器件測(cè)試插座、高頻測(cè)試插座

  GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
  適用于BGA(FPGA),LGA測(cè)試和老化插座
  1.0mm/0.039“間距18x18觸點(diǎn)最大值
  -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競(jìng)爭(zhēng)力-交貨時(shí)間
  短-溫度范圍(典型值)
  -40至+150℃(典型值)


  [可接受的器件]
  FTGB196(賽靈思)
  256針FBGA(英特爾)
  FT256/FTG256(賽靈思)
  FG256/FGG256(賽靈思)
  FG320/FGG320(賽靈思)


  [可接受的器件]
  FTGB196(賽靈思)
  256針FBGA(英特爾)
  FT256/FTG256(賽靈思)
  FG256/FGG256(賽靈思)
  FG320/FGG320(賽靈思)


  GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
  適用于BGA(FPGA),LGA測(cè)試和老化插座
  1.0mm/0.039“間距18x18觸點(diǎn)最大值
  -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競(jìng)爭(zhēng)力-交貨時(shí)間
  短-溫度范圍(典型值)
  -40至+150℃(典型值)

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